技术编号：8417407
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 金属、陶瓷和其他重要材料是由许多单个晶体颗粒组成。对于均匀的组合物材料， 全部晶粒的晶体结构是相同的，但是它们相对的晶体取向在整个材料里是不相同的。事实 上，材料的许多重要的工程性质是晶粒性质的功能，列举几个示例，例如晶粒大小、边界、大 小分布、和取向。 单个的组合物多晶材料通常没有和基于吸收和/或相位衬度的在传统的X射线断 层扫描中鉴定单独的晶粒和边界有对比。 电子背散射衍射成像（electron backscatter diffraction，EBS...
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