技术编号:8428800
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学测试,涉及一种基于自准直仪的测角装置及测角方法,尤其涉及一种基于双光谱自准直仪的。背景技术在精密测试计量,自准直仪是一种常见的仪器,它主要用于进行小角度及角位移的测量。该仪器具有结构简单,精度高,使用方便、可靠、仪器体积小等优点,在大地测绘、精密机械加工、计量、科研、设备安装和军事工程中得到了广泛的应用。因此,近年来自准直仪的发展非常迅速,由最早的纯机械光学式发展到光电机械瞄准式,而后发展到光电数显式,以及发展到光机电算融为一体的自动测量和显...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。