原位输运性质测量方法技术资料下载

技术编号:8429386

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本发明设及一种。背景技术 低维量子物质是物理学研究内容最丰富的领域之一。半导体异质结界面的二维电 子气、石墨締、铜基和铁基超导体、拓扑绝缘体、氧化物界面W及过渡金属硫族化合物层状 材料等等都属于该类体系。该些体系展现了自然界中一些最神奇的量子态,设及凝聚态物 理主要的重大科学问题,是揭示低维物理最具挑战的强电子关联问题的关键体系,它们很 有可能还是导致未来信息、清洁能源、电力和精密测量等技术重大革新甚至是革命的一类 体系,是目前全世界的研究重点。对于该类...
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