技术编号:8431825
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。随着半导体工艺尺寸不断缩小,IC设计的规模越来越大,高度复杂的IC产品正面临着高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战。一方面随着半导体工艺尺寸的缩小,嵌入式存储器可能存在的缺陷类型越来越多;另一方面,随着IC产品的复杂度的提高,ROM、RAM、EEPROM在IC产品中的比重越来越大。嵌入式存储器的可测试技术包括直接测试、用嵌入式CPU进行测试和内建自测试技术(MBIST,Memory-Built-1n-Self-Test)。相比其他...
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