技术编号：8444572
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及颗粒材料计算力学和本构模拟，尤其是一种颗粒材料正交各向异性的 细观组构定量测试与分析方法。背景技术 Gillott(1970)以及Yoshinaka与Kazama(1973)用X光进行测量。Moegenstern 和Tchalenko(1967)采用了光学的方法来研宄粘土的颗粒朝向。Kanatani(1984)发现 了张量形式的扭剪密度函数。Kuo和Frost(1996, 1997)，Kuo等（1998)以及Jang和 Frost(1999, ...
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