技术编号：8445464
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 随着电子技术的飞速发展，用户对电子设备的要求也越来越高。其中，硬盘是很多 电子设备中非常重要的一个组成部分，为了保证电子设备的应用环境的稳定、可靠和高性 能等，电子设备中的硬盘的性能需要满足要求，这就需要对硬盘进行全面的功能性、稳定性 等性能测试，找到满足要求的硬盘。 现有技术中，用户对测试硬盘的工具进行手动配置，然后对单个硬盘进行测试，输 出测试数据。通过上述描述可见，现有技术中，一般只是对单个硬盘进行测试，无法同时对 多个硬盘的性能进行测试。发明内容...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。