技术编号:8452020
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及的是一种测量数显装置及计算方法,特别是涉及一种同轴度偏差测量 数显装置及空间中两特征点在一个坐标系下位置偏差计算方法。背景技术 在现有技术中,公知的技术有位移传感器可以测量机械位移并将机械位移量转 化为电子数据信号,常用位移传感器有电位器式、电容式、差动电感式、电阻应变式、差动变 压器式、涡流式、霍尔式、光栅、容栅、磁栅、感应同步器和激光位移传感器等。目前各种数显 表(数显杠杆表、数显百分表、数显千分表等)、线性测微计、容栅测微计、光栅尺等各种...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。