技术编号：8472073
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及微波成像，尤其是近场平面扫描三维成像方法。背景技术 微波近场成像作为一种有效的非破坏性检测和评估手段，在对飞机涂层、航天器 和组合材料的粘合等重要结构进行评估、对隐匿物品进行安全检测等领域发挥重要的作 用。由于其具有较高的空间分辨率能力，能够实现传感器和目标之间的相对定位，并且系统 易于实现，因而具有广泛的工程应用价值。 传统近场平面扫描三维成像系统通过获取大量的回波数据来得到高分辨率目标 像，其基于传统奈奎斯特采样和匹配滤波技术，成像的主要步...
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