技术编号：8486300
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及光学性质检测领域，尤其涉及。背景技术 在采集平面样品的BDRF光学特性时，入射辐射亮度值难以测定，需要用标准板代 替。对于标准板的选择有以下四个标准 1)用于检测辐射度的漫反射标准板，其自身的BRDF特性需要已知； 2)标准板应具有良好的近似Lambertian特性、高反射值； 3)当做参比测量时，标准板的大小应能被探测器的视场角（Field of View, F0V) 覆盖； 4)需保证在测量过程中标准板的BRDF值稳定。 Spectralo...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。