技术编号：8486414
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在专利文献I中记载了一种杂质微粒测定技术，该杂质微粒测定技术的特征在于，具备发光二极管，其对用于供期望流体流动的流路照射光；两个受光元件，其沿着流体的流路方向分离配置，对因光的照射而形成的流路的透射光进行检测；检测部，其根据各受光元件的差动输出来检测在流路中流动的杂质微粒的量。在先技术文献专利文献专利文献1日本特开2013-142626号公报液体中含有的微粒的量并不局限于在静态环境下测定。在利用专利文献I所记载的技术测定例如建筑机械或车辆等那样的、在动态环...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。