技术编号：8486698
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。测量材料对光的吸收、散射以及发光现象，是研究半导体内载流子的跃迁、复合以及晶格运动模式的重要实验手段，并且对样品无损伤。而随着纳米技术的发展，人们感兴趣的材料和器件的尺度越来越小；而普通的光学探测手段受到显微物镜衍射极限的限制，其空间分辨率一般在微米数量级上。而自20世纪80年代以来，随扫描探针显微镜技术的快速进步，其与光学探测技术相结合，发展出的近场光学显微镜，具有超过衍射极限的光学空间分辨率，成为解决这一问题的重要方案和纳米结构研究中的一种重要手段。和...
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