技术编号:8487317
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及控制回路的性能评估领域,尤其涉及一种基于改进的倒双谱分析的控 制回路非线性检测方法。背景技术 工业现场通常包含众多控制回路,对这些控制回路进行检查及维护是生产过程运 行中一项棘手而繁重的工作。据调查,目前60%以上工业控制器中都存在性能退化问题。 如何利用日常运行数据对控制回路性能进行度量,从而对其进行优化设置以获取更多的经 济效益,已成为众多学者探寻的热点。近年来,控制回路性能监控与评估研宄成为工业控制 领域广为关注的命题。 在实际生产中,大...
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