一种sram芯片的puf特性测试方法及装置的制造方法技术资料下载

技术编号:8488645

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本发明涉及计算机硬件测试技术,尤其涉及一种SRAM芯片的PUF (PhysicallyUnclonable Funct1n,物理不可克隆函数)特性测试方法及装置。背景技术随着数字设备的迅速增长和应用,越来越多的信息被数字化存储和传输,而这些数字信号在存储和传输过程中极易被非授权的第三方侦测和获取,导致信息数据的泄露。为了防止机密信息被窃取,在数据传输和存储的过程中普遍采用了加密技术,目前主流的数字信息加密技术有基于私有密钥的AES、DES算法,以及基于公有...
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