技术编号:8488904
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。包括半导体芯片的电子器件可以展现寄生的源极或发射极电感和寄生的漏极或集电极电感。源极/发射极电感可以是比漏极/集电极电感更重要得多。减小寄生电感可以改进电子器件的效率。出于这些和其它原因,存在对本发明的需要。附图说明图1A — IF以横截面视图示出电子器件的实施例。图2以横截面视图示出电子器件的进一步实施例。图3A — 3D示出电子器件的进一步实施例。图3A — 3C示出顶视图并且图3D示出横截面...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。