技术编号：8494063
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。测试分选机作为如下的设备已被众多的公开文献所公开。即，将通过预定的制造工艺而制造的半导体元件从客户托盘(⑶STOMER TRAY)移动到测试托盘(TEST TRAY)之后，提供支持，以使承载于测试托盘的半导体元件能够被测试机(TESTER)同时测试(TEST)，且根据测试结果而将半导体元件按等级进行分类并从测试托盘移动到客户托盘。如韩国授权专利10-0801927号等公开的那样，测试分选机中具有插入件(INSERT)，该插入件形成有可以使半导体元件以插入的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。