技术编号:8511269
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及显微镜系统的领域,并且更具体地,涉及一种用于结构照明显微术 (structured illumination microscopy)的方法及系统。具体地,本发明涉及一种用于提 供标本(specimen)的3D高度图的改进方法及系统。背景技术 EP 2 327 956 Al公开了一种用于确定三维结构的个体特征的范围(距离)的光 学传感器。该传感器具有被组成空间调制周期性图案的光源,该光源用于照明标本。使用 检测器元件的阵列来检测所投射的图案的图像...
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