技术编号：8512508
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 广泛用于电子产业领域的基板、晶片等通过检查装置检查不良。例如，利用摄像机 拍摄作为检查对象的产品，然后分为良好与不良。 在检查装置安置需要检查的对象并操作参数进行检查。但是，要确认检查是否进 行得正常时，要从装置取出产品后放显微镜或放大镜上面确认检查不良的真伪，因此，非常 不方便。在视觉装置（vision setting)未经正常验证的状态下开始进行一系列自动化工 作而生产产品（自动运行）时，将会发生生产产品的检查错误，并降低检查装置的检查能力 以及收率...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。