技术编号：8512646
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 产品的可靠性和寿命增长一直是可靠性研宄领域的重要问题。对于许多航天类、 光电类的核心元器件而言，其寿命要求高、技术难度高、生产成本大、生产批量小，因此其在 可靠性和寿命增长的实现上具有很大难度。 传统的寿命增长是通过增长试验暴露缺陷或故障，并通过故障归零改进薄弱环节 来实现，这种增长方式往往需要经历较长的增长时间，对于长寿命核心元器件而言，矛盾尤 为突出。加之，此类产品的设计、生产及寿命特性的改进，大多依赖于工程人员的经验或借 鉴国外的生产工艺和材料配比...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。