技术编号:8527286
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明属于光电测试,涉及一种基于矢量网络分析仪的光器件S参数测 量系统、以及一种基于矢量网络分析仪的光器件S参数测量方法。背景技术 高速光传输系统对系统中光器件的性能有着很高的要求,所以光器件参数测试手 段是目前高速光传输的重要研宄方向之一。现有的光器件S参数测试系统主要有三类第 一类是针对特定光器件的专用仪器测试系统,如半导体激光器参数测试仪、近红外光电探 测器参数测试仪,该类测试系统存在频率调制范围小、适用性差、品类少的缺点;第二类利 用针对特定功能...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。