技术编号:8542068
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。由于非球面具有更多的设计自由度,使得光学系统具有更大的灵活性,能够校正像差、改善像质、扩大视场,并使光学系统结构简化、重量减轻,因此在现代光学系统中得到了广泛应用,特别是在天文望远镜、深紫外光刻、激光武器光学系统、激光核聚变光学系统以及制导导弹的光学成像引导系统等高端。目前,非球面测量方法比较多,包括接触式扫描法、斐索干涉测量法、计算全息法和共焦扫描测量法等。接触式扫描法是最经典的测量方法,测量过程中,机械测头始终与被测表面保持接触,表面上的结构及面形变化...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。