技术编号：8542696
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。为确保IC卡卡片非接功能正常，卡片生产厂商需要抽调大量的人员及时间在非接触功能的检验上面，因此在IC卡非接手工电测方面耗费大量的检测工时，此前每万张卡片手工非接电测耗时约为5-6工时，按一家中小型发卡中心每年发卡1000万张估算，仅电测工序就耗费工时超5000小时。这种方式效率非常低下，浪费太多的人力物力，这种问题亟待解决。发明内容有鉴于此，本发明实施例提供一种用于检测非接触卡芯片不良的装置，可以有效提尚不良卡的检测效率。本发明实施例是这样实现的，一种用于...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。