技术编号:8545962
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。现有技术中的信号检测电路的典型结构如图1所示,输入端输入高电平信号时,切换开关SWl切换到低电平,双向光耦PCl导通,输出端检测到输入信号;输入端输入低电平信号时,切换开关SWl切换到高电平,双向光耦PCl导通,输出端检测到输入信号。然而,在如图1所示的现有技术的信号检测电路中,输入端的电路部分和输出端的电路部分需要分别使用不同的电源(图中所示的VCC电源和VDD电源);并且此电路在应用时,还需要开关器件的切换,因此其使用寿命及检测精度也受到开关器件的影响...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。