技术编号:8547933
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。矿物分析系统(诸如可从俄勒冈州(Oregon )的Hi 11 sboro的FEI公司得到的QEMSCAN和MLA)已在许多年里被用来分析矿物样本。为了确定矿中存在的矿物类型和相对数量,小颗粒形式的样本被固定在环氧树脂中,并且被放置在真空室中。将电子束导向样本,并且在被称为“能量色散X射线光谱学”或者“EDS”的过程中,响应于电子束来自样本的X射线能量被测量并且被绘制在直方图中以形成光谱。所测量的光谱可以与各种元素的已知光谱相比较,以确定存在哪些元素和矿物,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。