技术编号：8579639
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。半导体集成电路目前运用广泛，在国际中尤其在国内处于成长期，是拉动市场发展的主要动力，于是自动测试分档技术显得尤为重要。目前的自动测试装置主要是由阻挡块挡住芯片，金手指夹持测试。而现有的测试装置中芯片测试位置的定位不够准确，定位过程不够顺畅；芯片在轨道中也只是靠自身重力下落，周期太长，效率太低。实用新型内容有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种芯片自动测试装置，以解决现有技术中存在的上述至少一个技术问题。本实用新型提供的芯片自动测试装置，包括测试区，所述测试...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。