技术编号:8579644
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。—般在进行阵列测试时常采用双Pin (针)模式接触被测元件,其中一个Pin起测试作用,另一个Pin起定位作用。但是由于硬件特性限制,Pin数的上限是一定的,而且提高Pin数会降低Pin的重量和刚性,减少Pin的寿命,并增加成本。而低温多晶硅(LTPS,LowTemperature Poly-silicon)阵列中测试信号复杂,需要的通道较多,需求Pin针较多,现有的双Pin (针)模式仅一个Pin起测试作用,因此其Pin针利用率低下,且很难实现良好的状态监...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。