技术编号：8588912
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。伦琴先生发现X射线后不久，就认识到X射线可以用于材料检测。但直到上世纪70年代，X射线才开始被用于工业领域。在X射线检测的过程中，扇形的X射线穿过待检样品，然后在图像接收器(现在大多使用X射线图像增强器)上形成一个放大的X光图。X光的焦点面积和物距决定了成像面积的大小，加大物距可增大成像面积，但由于X光是面光源，加大物距会也使影像变得模糊。因此，影像的清晰度限制了 X光成像的面积，这直接造成必须对大型铸件进行多工位拍摄，才能完成对其内部缺陷的检测。目前国内...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。