多探针时序测试系统的制作方法技术资料下载

技术编号:8652951

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点测机是一种用于集成电路、LED晶圆、二极管晶圆等半导体电性测试设备。点测机测试电性是半导体制造工艺当中的一个不可或缺的工序,近年来,随着光电,半导体产业的迅猛发展,高集成和高性能的半导体晶圆需求也越来越大,在晶圆大批量生产中,往往在一片晶圆同时制作成百上千个芯片,通过点测机进行晶圆切割前的电性测试。随着技术的发展,晶圆的尺寸也越来越大,同时一片晶圆内所集成的芯片也越来越多,这就需要更多的测试时间来完成一片晶圆的测试。传统的测试方式是使用I台点测机+测试仪...
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