技术编号:8769912
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。目前,国内比较常用的两种非接触测量方法,一种是基于CCD器件接收光信号的测量方法,另一种是激光扫描测量方法。两种方法的优势以及劣势如下CXD尺寸测量系统由CXD像传感器、光学系统、微机数据采集和处理系统组成,线阵CCD平行光法进行非接触测量的基本原理将线阵CCD置于平行光路,被测物放于CCD前方光路中,射向CXD的光就被物体挡住一部分,因此CXD输出的信号就有一个凹口。显然,凹口的宽度与物体的尺寸有一一对应的关系,利用数字电路设计和计算机处理就很容易的得到...
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