技术编号:8786414
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本实用新型涉及到到异物检测,特别是涉及到X光异物检测领域。背景技术 X光异物检测机工作原理利用X光对不同物质的穿透特性不同,检测出混在散料 中密度较大的异物,如金属、玻璃、石子等,再通过剔除装置将其剔除。 当前X光设备的射线源与探测器位置一般都是固定的,射线源高度基本取决于要 照射的物体宽度,探测器一般在传输带下方,这就导致当不同厚度的物体通过设备,系统的 实际分辨(放大)率在发生变化,无法保证在最优值附近。发明内容 本实用新型所要解决的技术问题在于提供...
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