技术编号：8786670
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在战略武器预研、试验及核设施退役过程中，需使用大量的异型α、β探头。随着对放射性场所表面污染监测的需要，各核仪器公司相继开发出形状各异的α、β表面污染测量仪，其探头探测窗口形状、大小不尽相同，有圆形、长方形、正方形，甚至在一个探头上设有多个探测窗口。按电离辐射计量检定规程JJG478-96规定，对α、β表面污染测量仪进行检定、校准时需有严格的实验操作平台。面对这些强检的α、β表面污染测量仪，对标准放射源表面与探测器之间的距离、几何中心位置，现有技术已不能满...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。