基于扫描探针显微镜的材料耐高电压实验及检测装置的制造方法技术资料下载

技术编号:8805739

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在材料科学探索中,对纳米电介质材料从宏观向下深入至介观(nm尺度的原子构成的结构单元)、微观(原子级)层次的深入研宄,使得电介质理论得到长足发展,进入低维系统,可以有效描述奇异理化特性和尺度效应等纳米科学中的特殊现象,以建立各个层次(微观、介观和宏观)间的相互关联的理论体系为目的,其核心在于研宄介于宏观和微观之间的介观领域的电介质材料行为特性,该层面尚未被深入系统研宄过。目前对纳米电介质材料的分析手段中,如介电谱、刺激电流、光谱分析、动态力学分析仪等,分析...
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