技术编号:8805750
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。电子产品在出厂前,通常需要进行一定时间的老化保证性能的稳定,剔除早期失效品,是品质控制的一项重要手段,也是产品最主要的性能指标之一。系统老化即是仿真出一种高温、恶劣的测试环境对被老化系统进行一段时间的烧机,将不合格的元器件筛选出来同时使产品的隐形缺陷在使用前被发现。老化测试可以使元器件尽快在几十小时内渡过其常温下需要工作1000多小时的早期失效期,而进入其相对稳定长达20多年的偶然失效期,同时由于生产工艺产生的电路隐藏缺陷也能被及时激活发现。现有的一种电源...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。