技术编号:8819532
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。在电子的产品生产过程中,经常要用到一种原材料一晶体振荡器,简称晶振,产品生产完成后,如果晶振不起振将会影响设计功能的实现,但是,在生产过程中逐个测量晶振频率所花费的人力物力较大,因此人们设计有晶振检测仪。现有的晶振检测仪是由振动盘、晶体轨道以及晶体轨道上的检测机构组合而成的,晶体通过振动落下以被检测装置检测,其缺点是晶体直接由晶体轨道上方落入到检测装置位置处,其下落中途未设置有缓冲装置,常常造成因冲力较大而未完成检测的情况,而且一次性落料过多极易导致检测仪...
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