技术编号:8826545
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。激光剥蚀电感耦合等离子体光/质谱LA-1CP-MS技术是最为成功和有效的直接对固体样品进行元素或同位素分析的技术之一。在众多的元素或同位素分析当中,铅元素同位素分析和单矿物铀铅定年在环境、地质、材料、考古等研宄领域发挥着关键的作用。目前,制约获取高精度铅同位素2tl4Pb检测结果主要来自汞同位素2tl4Hg的干扰。因此,降低汞的背景在质谱分析中是非常迫切。在质谱分析中,汞的背景主要源于仪器工作载气氩气、氦气中的汞杂质和矿物样品自身如硫化物、锆石等含有汞。在...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。