技术编号:8840058
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。在电子的产品生产过程中,经常要用到一种原材料一晶体振荡器,简称晶振,产品生产完成后,如果晶振不起振将会影响设计功能的实现,但是,在生产过程中逐个测量晶振频率所花费的人力物力较大,因此人们设计有晶振检测仪。现有晶振检测仪是由振动盘、晶体轨道以及晶体轨道上的检测机构组合而成,为使单个晶振依次有序进行检测,晶体轨道通常设计为仅供单个晶振排序通行,然而在实际使用当中,由于运行偏差,晶振很容易被卡在晶体轨道上,使得检测仪无法正常运转,影响检测效率。发明内容本实用新型...
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