技术编号:8849321
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。随着半导体集成电路技术的不断发展,新颖的制造技术支持着更小的特征尺寸,更复杂的器件结构在半导体芯片中出现。现代电子设备的元器件密度、工作速度、集成电路规模的逐渐增加,以及应用环境越来越复杂,不可避免的会带来一些负面的影响。集成电路作为电子设备的关键器件,对其工作性能的可靠性提出了更高的要求。一般情况下,集成电路发生故障后,其供电电流会突然增加。故障的原因有如下几种1、外部环境的电磁干扰;2、上电瞬间的电流尖峰干扰;3、静电放电(ESD)干扰等。而电流的激增...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。