一种三栅FinFET电势和亚阈值摆幅的提取方法技术资料下载

技术编号:8905329

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随着集成电路技术的不断发展,器件尺寸不断减小,传统的M0S阳T面临着短沟道 效应等一系列问题,因此研究新的器件结构就显得十分重要。S栅FinFET则是一种比较理 想的器件结构,栅极控制能力强,能抑制短沟道效应,优化亚阔值摆幅,从而有更低的功耗。 对于该种新型结构的器件,在被实际应用之前,必须能够快速、准确提取它的关键参数,如 沟道电势、亚阔值摆幅等,使之用于电路分析和电路仿真中,对电路功能验证、设计优化起 到不可或缺的作用。 亚阔值摆幅SS是M0SFET...
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