技术编号:8941209
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种以及由该方法得到的 用于材料性能测试的紧凑拉伸试样。背景技术 平面应变断裂韧性Kie测试试验一般有两种试样,一种为标准三点应变试样(代号 S(EB)),另一种为紧凑拉伸试样(代号C(T))。紧凑拉伸试样的基本结构是已知的,即包括 外形一般为长方体的试样本体,该试样本体的上表面竖直向下开有一条宽度狭窄且贯穿试 样本体前后表面的深槽,该深槽包括直槽部和位于直槽部底部的尖角部,其中,直槽部具有 设计以试样本体的左侧面与右侧面之间的中心线左右对称的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。