技术编号:8941775
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。微波器件的测试一直是元器件测试行业的难点,尤其对于QFN封装锁相芯片测试,难度更大。传统的测试夹具是利用金属探针将芯片管脚与适配器焊盘接触的方式进行器件测试。这种方法在频率很高时会因为测试探针产生的寄生参数影响器件的测试结果,甚至使器件不能正常工作。另外,现在QFN封装锁相环芯片将R分频器,N分频器,锁定指示等电路同鉴频鉴相器集成到一块芯片上,针对这种功能强大的锁相环芯片的测试,目前还没有一种很合适的测试方法能够检测这些功能参数。发明内容本发明要解决的技术...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。