技术编号:89419
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明系对物理学领域中的一种测量仪器-膨胀仪的改进。低膨胀材料在窄温区内热膨胀性能的精确测定,例如对因瓦合金在20℃~100℃平均线胀系数测定的不确定度Ua≤0.1×10-6/℃,用通常的膨胀仪是无法满足的。目前只有采用Ua≤0.06×10-6/℃的激光干涉膨胀仪测定才能达到要求。但激光干涉膨胀仪不仅造价高,对震动极为敏感,而且试样制备、装样调试和测试数据的处理都很复杂。测试一个试样需要较长的时间,不适合于大量试样的性能测量,因此不适合于一般的科研和生产单位使用。另一方面,通常的石英示差膨胀计,如施文纳尔(Chev...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。