技术编号：8946314
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 传统IDD-LTE系统外干扰的分析方法采用通用频谱仪，利用扫频的原理分析空中 信号的频谱。但是这种方法无法将系统内信号与系统外干扰分离，往往系统内信号的功率 大于系统外干扰，干扰信号隐藏在系统内信号的频谱以下，无法分辨，更无从知道干扰信号 的频点、带宽、功率等信息。 现代频谱仪集成了TDD-LTE解调的功能，可以利用对TDD-LTE的解调，分离系统内 信号和干扰信号。这种方法依赖于对信号的解调质量非常良好，才能分析出干扰信号的频 点，但是现场环境非常复杂...
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