技术编号：9046867
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 目前，检验抛光后的光学零件面形偏差通常采用光学样板或干设仪检测，检验方 法都是根据光的干设原理，在光学车间检验光学零件的面形偏差，常用的方法有干设图样 法和阴影法。干设图样法可分为接触法（即样板法）和非接触法（即干设仪法)。 在光学车间光学镜片面形偏差检测通常采用光学样板法，而镜片下盘后出厂前的 终检采用干设仪检测法。二者都是根据光的干设原理，通过观察到的干设条纹的数目、形 状、变化状态和颜色来确定镜片的面形偏差。样板法检测需要将待测镜片和光学样板直接 ...
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