技术编号:906049
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种二维阵列X射线检测器的检查方法。背景技术作为在X射线摄影装置中使用的二维阵列X射线检测器,例如已知一种平板检测器(FPD)。该平板检测器具有如下结构在将TFT等开关元件配置成二维阵列(矩阵)状的基板上蒸镀了 a-Se (非晶硒)等转换膜。在该平板检测器中,当穿过被检体而形成的X射线图像被投影到转换膜上时,在转换膜内产生与图像的浓度成比例的电荷信号。利用被配置成二维阵列状的像素电极来收集该电荷信号,并蓄积到静电电容(capacitance)中。...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。