技术编号:9078888
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。X射线无损检测是利用X射线对材料的透射性能及不同材料对射线的吸收和衰减程度的不同,使底片感光成黑白程度不同的图像。强度均匀的射线照射被检测的物体时会产生能量的衰减,其衰减程度与射线的能量(波长)、被穿透物质的质量、厚度及密度有关。如果被检测物体是均匀的,射线穿过物体衰减后的能量只与其厚度有关,且衰减程度也是均匀的。当物体内有缺陷时,在缺陷部位穿过的射线衰减程度存在差异,最终得到不同强度的射线,而随着物体与射线源的距离不同,则获得不同的射线能量从而得到不同的...
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