技术编号：9123475
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。对于空气附面层的测量，传统使用的测量方法有测压耙、热线等，但这些方法由于是直接测量方法，对附面层的流动具有干扰，影响了测量结果的准确性；此外，这些方法每次只能在一个位置测量，要了解平板附面层从前向后的发展，需要进行不同位置的多次测量，效率较低，同时由于这些测量结果不是同一时间获得的，是近似宏观的平均结果，给分析带来不便；使用PIV测量技术能够获得同一时刻附面层的速度信息，但由于所使用模型壁面光污染问题，使PIV对附面层的测量受到限制。发明内容本实用新型的目...
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