技术编号：9124490
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。随着科学技术的快速发展，特别是数字技术及各种超大规模集成电路的广泛应用，电子装备结构越来越复杂，功能越来越完善，自动化程度也越来越高。虽然电子系统的性能提高，但是对测试和维修保障也产生了测试流程复杂、测试时间长等诸多问题，这些问题严重影响了电子设备生产周期、完好性和寿命周期。使用传统的实验设备和方法进行数字电路系统测试的成本高，耗费大量人力物力。比如传统的基于信号分析的方法，使用电压表、电流表、示波器、逻辑分析仪等设备对数字电路进行测试，过程十分复杂，可靠...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。