技术编号:9124498
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。现有技术中,在模拟集成电路测试系统AMIDA-3KS上,多数采用电压式反馈运算放大器运放环的设计,没有电流式运放环的设计。测量参数有开环参数和闭环参数两类,开环参数包括失调电压、偏置电流、开环增益、共模抑制比以及电源电压抑制比等参数,闭环测试包括压摆率等参数的测试。开环参数测试时被测运放必须处于开环状态,闭环参数测试时被测运放必须处于闭环状态。运放环设计主要实现辅助运放补偿、辅助运放供电、不同测试电路的切换等功能。由于诸多因素的影响,运放环的参数测量精度容...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。