技术编号：9140190
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 许多装置使用离子源或电子源来提供离子或粒子。在离子源的使用期间，它可能 会被样品污染或由于暴露于大气下而受到污染，或者其它所非要的物质可能会积聚在源组 件上，从而潜在地导致不良性能或分析误差。可能希望移除所述源以便进行清洁，但是当 所述源未处于适当位置时，所述源的移除可能会导致仪器受到污染，例如，由于暴露于大气 下。明确地说，可能需要打开整个仪器以移除和清洁离子源，而这样可能会导致系统的内部 组件受到污染。另外，柱在仪器中的恰当定位可影响总体仪器性能。发...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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