技术编号:91762
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明属于物体表面发射率的测量领域。 已有的测量物体表面发射率的方法有稳态法、动态法和反射法,前两种是取样后在实验室设备上测出样品表面的发射率,不能直接用于工业现场。用反射法测量物体表面发射率是测量物体表面反射率,对具有漫反射表面的物体,在使用上受到了限制。根据专利号为US4204120的发明《材料的红外吸收或辐射系数的测量方法和设备》(Process and Apparatus for the Measurement of the factor of ...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。