技术编号:9204114
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种,其中,所述试样在测量区域中被加载以荧光激发光,所述荧光激发光将发光体从可激发的电子基态激发到被激发的发光态,其中,试样在测量区域中被加载以荧光退激发光的具有局部最小处的强度分布,所述荧光退激发光将发光体从被激发的发光态带回到所述可激发的电子基态,其中,记录从测量区域所发射的荧光,并且,所记录的荧光配属于局部最小处在试样中的位置。在这样的方法中,由测量区域所发射的荧光的强度为局部最小处在试样中的位置上的发光体浓度的量度。通过对局部最小处的每个...
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